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图书信息
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谷物产地指纹溯源理论与技术
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| ISBN： | 9787030614629 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 魏益民[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2019年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 111页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | S512.1 |
相关供货商
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区7
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2026-07-06
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其它供货商库存合计
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209
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2026-07-06
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图书简介 | | 全书共分为6章，第1章综述了稳定性指纹、矿质元素指纹分析技术在植原性食品产地溯源中的最新研究进展，环境、基因型、交互作用对溯源指纹信息的影响及目前研究存在的问题；第2章至第5章分别是环境、基因型、交互作用对小麦籽粒产地指纹信息影响的分析结果、讨论与相关结论；第6章为综合性的讨论与结论，并对今后的研究作以展望。 |
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