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图书信息
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谷物产地指纹溯源理论与技术
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| ISBN: | 9787030614629 |
定价: | ¥98.00 |
| 作者: | 魏益民[等]著 |
出版社: | 科学出版社 |
| 出版时间: | 2019年06月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 111页 |
装祯: | 平装 |
中图法: | S512.1 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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1
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库区7
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2026-08-28
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其它供货商库存合计
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219
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2026-08-28
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图书简介 | | 全书共分为6章,第1章综述了稳定性指纹、矿质元素指纹分析技术在植原性食品产地溯源中的最新研究进展,环境、基因型、交互作用对溯源指纹信息的影响及目前研究存在的问题;第2章至第5章分别是环境、基因型、交互作用对小麦籽粒产地指纹信息影响的分析结果、讨论与相关结论;第6章为综合性的讨论与结论,并对今后的研究作以展望。 |
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