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图书信息
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纳米材料的X射线分析
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| ISBN： | 9787122334169 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | 程国峰，杨传铮编著 |
出版社： | 化学工业出版社 |
| 出版时间： | 2019年06月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 24cm |
页数： | 351页 |
中图法： | TB383 |
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2025-09-05
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图书简介 | | 本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构，特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性，本书分为三个部分：晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分；中间部分是X射线衍射分析方法和应用，包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等；最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。 |
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