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图书信息
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基于失效模式的电子元器件质量控制
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| ISBN： | 9787563829347 |
定价： | ￥68.00 |
| 作者： | 李京苑主编 |
出版社： | 首都经济贸易大学出版社 |
| 出版时间： | 2019年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 184页 |
中图法： | TN6 |
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2026-06-26
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图书简介 | | 本书主要介绍了基于失效模式的质量控制方法，电子元件典型失效模式，电子器件典型失效模式，大规模集成电路的可靠性问题，塑封器件及其质量保证等内容。 |
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