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图书信息
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物联网系统动态性能半物理验证技术
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| ISBN： | 9787030586667 |
定价： | ￥129.00 |
| 作者： | 俞晓磊，汪东华，赵志敏[著] |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2019年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 15,246页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN911.23 |
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2026-06-17
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图书简介 | | 本书围绕半物理仿真技术在物联网领域的典型应用开展研究，共分7章，反映了当今物联网和RFID领域一个前沿创新的研究方向，同时也介绍了著者科研团队在RFID动态检测技术研究方向的最新成果。 |
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