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图书信息
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互换性与测量技术
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| ISBN： | 9787560644875 |
定价： | ￥38.00 |
| 作者： | 张远平主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2018年06月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 263页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-10
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图书简介 | | 本书按照最新国家标准编写，内容包括互换性的基本知识与概念、极限与配合、几何量计量技术与应用、几何公差与检测技术、表面粗糙度的应用与检测、量规设计基础、标准件及非圆柱结合的公差与检测(包括键联结、螺纹结合、滚动轴承的配合应用及圆锥结合的公差与检测)、圆柱齿轮的公差与检测、尺寸链解算基础等。 |
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