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图书信息
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互换性与测量技术基础
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| ISBN： | 9787111585176 |
定价： | ￥42.00 |
| 作者： | 周兆元，李翔英主编 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2018年02月 |
版次： | 4版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 254页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书共分十一章，内容包括绪论、测量技术基础、尺寸的公差、配合与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测、尺寸链基础、光滑极限量规设计、常用结合件的公差与检测、渐开线圆柱齿轮的公差与检测，以及计算机在公差与检测中的应用举例。 |
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