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¥55.00
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图书信息
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互换性与测量技术基础
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| ISBN： | 9787568252430 |
定价： | ￥55.00 |
| 作者： | 高丽，于涛，杨俊茹主编 |
出版社： | 北京理工大学出版社 |
| 出版时间： | 2018年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 208页 |
中图法： | TG801 |
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6
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2025-12-15
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图书简介 | | 本书包括绪论，测量技术基础，孔、轴公差与配合及其尺寸检测，几何公差及检测，表面粗糙度及检测，滚动轴承与孔轴结合的互换性，渐开线圆柱齿轮公差与检测，常用连接件公差与检测，圆锥公差以及尺寸链等共十章。 |
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