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图书信息
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互换性与测量技术基础
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| ISBN： | 9787568037150 |
定价： | ￥39.80 |
| 作者： | 景修润，唐克岩，孙荣敏主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2018年02月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 211页 |
中图法： | TG801 |
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更新日期
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176
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书共分为10章，内容包括互换性与标准化、测量技术基础、尺寸的公差配合与检测、几何公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度的公差配合与检测等。 |
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