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图书信息
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工程纳米测量基础
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| ISBN： | 9787308175630 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | (英)理查德·利奇著 |
出版社： | 浙江大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年12月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 24cm |
页数： | 300页 |
中图法： | TB22 |
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2026-04-02
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图书简介 | | 本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基本知识，精密测量仪器设计原则，长度测量溯源，位移测量，表面形貌测量仪器，扫描探针和粒子束显微，表面形貌特征描述，坐标测量，质量和力测量，测量国际单位及其在NPL实现等。 |
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