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图书信息
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公差配合与技术测量
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| ISBN： | 9787302483977 |
定价： | ￥30.00 |
| 作者： | 张淑娟，张瑞珊主编 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2018年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 161页 |
中图法： | TG801 |
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382
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书分为六个项目，内容主要包括尺寸公差及配合、几何公差、表面粗糙度和测量、普通计量器具的选择和光滑极限量规、典型零件公差与检测、尺寸链基础。 |
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