同类推荐
-
-
机械量具检定与调修
-
¥43.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥45.00
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥55.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥59.00
-
-
互换性与检测实训
-
¥45.00
-
-
测试技术基础与传感器应用
-
¥48.00
-
-
公差配合与测量技术
-
¥46.80
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
-
-
精密检测技术
-
¥55.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
公差配合与测量技术
|
| ISBN: | 9787302483601 |
定价: | ¥39.00 |
| 作者: | 张荣主编 |
出版社: | 清华大学出版社 |
| 出版时间: | 2018年01月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 215页 |
中图法: | TG801 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
1
|
|
2025-12-11
|
图书简介 | | 本书总共设置五个工作项目,分别为光滑圆柱公差配合及其检测、测量技术基础、几何公差及其检测、表面粗糙度轮廊及其检测、常用连接件的公差配合及其检测。 |
|