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图书信息
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高速复杂互连的串扰故障测试技术
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| ISBN： | 9787560646022 |
定价： | ￥29.00 |
| 作者： | 尚玉玲，李春泉著 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年09月 |
开本： | 23cm |
| 页数： | 184页 |
中图法： | TN911.4 |
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2025-07-08
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图书简介 | | 本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法，主要涉及三方面：高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、告诉互连通路串扰故障的ATPG技术。以非理想互联线的渐进式串扰故障、复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心，论述了复杂互连线串扰测试方法等。 |
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