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图书信息
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纳米级集成电路系统电源完整性分析
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| ISBN： | 9787111569879 |
定价： | ￥125.00 |
| 作者： | (日)桥本正德，(美)拉杰·耐尔(Raj Nair)等著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2017年09月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 15,314页 |
中图法： | TN86 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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95
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库区1/样本1
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2025-12-20
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图书简介 | | 进入21世纪以来，集成电路制造工艺的发展日新月异，目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题，直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此，本书作者以系统级电源完整性为切入点，深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题，并以IBMPOWER7+处理器芯片作为实例进行分析，后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。 |
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