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图书信息
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纳米级集成电路系统电源完整性分析
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| ISBN: | 9787111569879 |
定价: | ¥125.00 |
| 作者: | (日)桥本正德,(美)拉杰·耐尔(Raj Nair)等著 |
出版社: | 机械工业出版社 |
| 出版时间: | 2017年09月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 15,314页 |
中图法: | TN86 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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93
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库区1
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2026-04-06
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图书简介 | | 进入21世纪以来,集成电路制造工艺的发展日新月异,目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题,直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此,本书作者以系统级电源完整性为切入点,深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题,并以IBMPOWER7+处理器芯片作为实例进行分析,后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。 |
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