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图书信息
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物联网系统动态性能半物理验证技术
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| ISBN： | 9787030540560 |
定价： | ￥89.00 |
| 作者： | 俞晓磊，汪东华，赵志敏著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2017年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 10,212页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN911.23 |
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202
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书基于新颖的数学方法，将半物理仿真技术与物联网应用系统相结合，针对典型物联网系统动态测试半物理验证若干关键技术的理论与应用进行了研究，对解决RFID及物联网工程技术发展的瓶颈问题具有重要的科学意义和广泛的应用前景。 |
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