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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN： | 9787560643885 |
定价： | ￥26.00 |
| 作者： | 茅健主编 |
出版社： | 西安电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年04月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 206页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-10
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图书简介 | | 本书分十章，内容包括：绪论；极限与配合；几何公差；表面结构；滚动轴承的公差与配合；键和花键的公差与配合；圆柱齿轮的公差与配合应用；螺纹的公差与检测等。 |
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