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图书信息
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纳米力学测试新方法:扫描探针声学显微术:atomic force acoustic microscopy
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| ISBN： | 9787030515766 |
定价： | ￥78.00 |
| 作者： | 李法新，周锡龙，付际著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2017年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 185页，[8]页图版 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TB383.01 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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30
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库区4/样本4
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2026-06-18
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其它供货商库存合计
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202
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2026-06-17
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图书简介 | | 本书从AFAM的力学基础－接触力学出发，阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像，以及AFAM的广泛应用。此外，还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。 |
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