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图书信息
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材料的透射电子显微学与衍射学
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| ISBN: | 9787312037498 |
定价: | ¥99.00 |
| 作者: | (美)布伦特·福尔兹,(美)詹姆斯·豪著 |
出版社: | 中国科学技术大学出版社 |
| 出版时间: | 2017年01月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 11,57页 |
中图法: | TB302 |
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图书简介 | | 本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比,这一版所有章节都进行了更新和修订,并增加了与TEM有关的重要的新技术,如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理,以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别,并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。 |
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