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图书信息
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材料的透射电子显微学与衍射学
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| ISBN： | 9787312037498 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | (美)布伦特·福尔兹，(美)詹姆斯·豪著 |
出版社： | 中国科学技术大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 11,57页 |
中图法： | TB302 |
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北京人天书店有限公司
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图书简介 | | 本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理，以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别，并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。 |
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