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图书信息
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ZS-高职-公差配合与技术测量
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| ISBN： | 9787562348641 |
定价： | ￥39.00 |
| 作者： | 王晓晶，吴贵军，王樑主编 |
出版社： | 华南理工大学出版社 |
| 出版时间： | 2016年02月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 280页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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928
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教材库
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2026-07-28
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图书简介 | | 本书分为8个情境，内容包括绪论、孔轴公差与配合、测量技术基础知识及光滑工件尺寸的检测、几何公差及检测、表面粗糙度及其检测等。 |
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