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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN： | 9787568017053 |
定价： | ￥35.00 |
| 作者： | 李蓓智主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2016年04月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 24cm |
页数： | 271页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书系统且简明扼要地介绍了互换性与技术测量的基本概念与知识、最新的国家标准及其应用要点。主要内容包括：技术测量基础、尺寸公差与配合、几何公差及测量、表面粗糙度等。 |
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