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图书信息
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电子元器件失效分析技术
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| ISBN： | 9787121272301 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 恩云飞，来萍，李少平编著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2015年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 19,453页 |
中图法： | TN606 |
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作。 |
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