同类推荐
-
-
太赫兹器件与应用
-
¥180.00
-
-
多电平变换器及其配电系统应用
-
¥138.00
-
-
麦克风网络中分布式说话人跟踪方法
-
¥55.00
-
-
电子封装组装电互联设计基础
-
¥58.00
-
-
微波器件多物理场耦合理论及应用
-
¥65.00
-
-
微型扬声器及音箱仿真
-
¥119.00
-
-
智能电子产品设计与制作
-
¥43.00
-
-
开关变换器设计
-
¥49.00
-
-
太赫兹回旋器件原理及应用
-
¥168.00
-
-
人工智能与电力电子变换器调制技术
-
¥98.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
电子元器件失效分析技术
|
| ISBN： | 9787121272301 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 恩云飞，来萍，李少平编著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2015年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 19,453页 |
中图法： | TN606 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
559
|
|
2026-02-04
|
图书简介 | | 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作。 |
|