同类推荐
-
-
几何量公差与检测实验指导书
-
¥29.80
-
-
几何量公差与检测
-
¥49.80
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥59.00
-
-
机械量具检定与调修
-
¥43.00
-
-
表面粗糙度的测量和表征
-
¥58.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥45.00
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥55.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥59.00
-
-
几何量精度设计与检测
-
¥59.80
-
-
互换性与检测实训
-
¥45.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
几何量公差与测量技术基础:英文版
|
| ISBN： | 9787512418424 |
定价： | ￥55.00 |
| 作者： | 张彦富[等]编著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2015年11月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 235页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
22
|
|
2026-01-23
|
图书简介 | | 本书内容包括极限与配合、几何公差(旧标准称为形状和位置公差)、表面粗糙度等的基本术语和定义、图样标注和选用等等基础内容、滚动轴承、键和花键、螺纹、圆柱齿轮等典型连结的公差与配合及其选用、尺寸链以及测量技术基础和光滑工件尺寸检验等。 |
|