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图书信息
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几何量公差与测量技术基础:英文版
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| ISBN： | 9787512418424 |
定价： | ￥55.00 |
| 作者： | 张彦富[等]编著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2015年11月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 235页 |
中图法： | TG801 |
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2025-09-04
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图书简介 | | 本书内容包括极限与配合、几何公差(旧标准称为形状和位置公差)、表面粗糙度等的基本术语和定义、图样标注和选用等等基础内容、滚动轴承、键和花键、螺纹、圆柱齿轮等典型连结的公差与配合及其选用、尺寸链以及测量技术基础和光滑工件尺寸检验等。 |
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