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图书信息
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高阶张量特征值和相关多项式优化问题研究
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| ISBN： | 9787030437655 |
定价： | ￥78.00 |
| 作者： | 杨宇宁，杨庆之[著] |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2015年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 183页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | O1 |
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2026-08-17
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图书简介 | | 本书主要研究张量特征值的各种性质、最大特征值的计算方法及相关的计算。具体内容包括：正方张量特征值的定义及基本性质、非负正方张量的Perron-Frobenius定理，张量不可约的判定条件、不可约非负张量H特征值的分布、H特征值的几何单性，基于Perron-Frobenius定理表明一定条件下谱半径可以在多项式时间内求解等。 |
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