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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN： | 9787564012588 |
定价： | ￥32.00 |
| 作者： | 魏斯亮，李时骏主编 |
出版社： | 北京理工大学出版社 |
| 出版时间： | 2009年08月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 245页 |
| 中图法： | TG801 |
印次： | 2013.12重印 |
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1
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2026-06-11
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图书简介 | | 本书系统地介绍了互换性与技术测量的基础知识，包括互换性与标准化，极限与配合，形状和位置公差，表面粗糙度标准，技术测量基础知识，普通螺纹的公差与配合等内容。 |
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