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图书信息
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数字电子技术实验
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| ISBN： | 9787562150732 |
定价： | ￥25.00 |
| 作者： | 赵庭兵，陈跃华，王丽丹主编 |
出版社： | 西南师范大学出版社 |
| 出版时间： | 2014年08月 |
开本： | 25cm |
| 页数： | 210页 |
中图法： | TN79-33 |
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2026-04-28
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图书简介 | | 本书共分为：实验基本知识；数字电路基础实验；数字电路与逻辑综合性、设计性实验；电路仿真设计软件包Multisim在数字电路实验中的应用四章，主要内容包括：TTL集成门电路逻辑功能测试、TTL集成门电路逻辑功能测试等。 |
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