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图书信息
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公差配合与精度检测
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| ISBN： | 9787121223693 |
定价： | ￥26.00 |
| 作者： | 张秀芳，许晖主编 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2014年01月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 10,174页 |
中图法： | TG801;TH122 |
相关供货商
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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19
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库区1/库区2/库区5/样本1
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2026-05-02
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图书简介 | | 本书主要内容包括尺寸公差及配合设计、形位公差设计、表面粗糙度设计、光滑工件尺寸检测、典型零件公差及检测、尺寸链分析与计算等。 |
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