同类推荐
-
-
几何量公差与检测
-
¥49.80
-
-
几何量公差与检测实验指导书
-
¥29.80
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥59.00
-
-
机械量具检定与调修
-
¥43.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥45.00
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥55.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥59.00
-
-
互换性与检测实训
-
¥45.00
-
-
几何量精度设计与检测
-
¥59.80
-
-
测试技术基础与传感器应用
-
¥48.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
公差与技术测量
|
| ISBN: | 9787313026187 |
定价: | ¥32.00 |
| 作者: | 徐志慧主编 |
出版社: | 上海交通大学出版社 |
| 出版时间: | 2013年07月 |
版次: | 3版 |
| 开本: | 26cm |
页数: | 233页 |
中图法: | TG801 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
96
|
|
2026-02-06
|
图书简介 | | 本书共10章,内容包括:公差与技术测量的概念、原理与应用,每章末有小结、习题和思考题。书末附有最新常用基础标准目录供参考。 |
|