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图书信息
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互换性与技术测量基础
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| ISBN： | 9787560990576 |
定价： | ￥39.80 |
| 作者： | 李军主编 |
出版社： | 华中科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2013年07月 |
版次： | 3版 |
| 开本： | 23cm |
页数： | 340页 |
中图法： | TG801 |
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书主要讲授互换性的基本概念，测量技术基础和现代测量技术与方法，公差与配合的结构、规律、特征、基本内容及公差与配合的选用，公差检测的基本概念和技术等内容。 |
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