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图书信息
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几何坐标测量技术及应用
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ISBN: | 9787506670050 |
定价: | ¥60.00 |
作者: | 李明,费丽娜著 |
出版社: | 中国质检出版社 |
出版时间: | 2012年11月 |
开本: | 27cm |
页数: | 14,250页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | P213 |
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2025-10-20
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图书简介 | 本书主要内容包括:坐标测量技术概论、几何特征的坐标测量和要素生成、测量坐标系和误差评定基准等。 |
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