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图书信息
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集成电路测试原理与技术（本科生.研究生教材）
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| ISBN： | 9787512450820 |
定价： | ￥52.00 |
| 作者： | 王香芬 高成 姚金勇 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年08月 |
开本： | 16开 |
| 装祯： | 平装 |
中图法： | TB 一般工业技术 |
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2026-09-07
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