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图书信息
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互换性与技术测量
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| ISBN: | 9787121530692 |
定价: | ¥49.00 |
| 作者: | 孙伦业,李君主编 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2026年06月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 72页 |
装祯: | 平装 |
中图法: | TG801 |
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2026-08-18
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图书简介 | | 本书以国家最新颁布的产品几何技术规范标准、检测技术为主线,结合现代企业对人才培养的需求进行修订。本书主要内容包括绪论,孔、轴的极限与配合,几何公差及检测,表面粗糙度轮廓及其评定,尺寸检测与光滑极限量规设计,滚动轴承的公差与配合,平键、花键联接的公差配合与检测,圆锥的公差配合及检测,螺纹连接的公差与配合,渐开线圆柱齿轮公差与检测和测量技术基础。 |
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