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图书信息
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高压下过渡金属硫族化合物的结构和性质研究
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| ISBN： | 9787576823400 |
定价： | ￥32.00 |
| 作者： | 闫雅兰著 |
出版社： | 吉林大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 106页 |
中图法： | TB34 |
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2026-06-23
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图书简介 | | 本书采用高压拉曼光谱测量技术、高压荧光光谱测量技术及第一性原理计算方法，以超薄层(三层、四层)MoS2、多层(bulk)ReS2、单层ReSz、多层(bulk)ZrS为研究对象，系统地研究了它们在高压下的晶格结构、电子结构演化规律，以此来揭示高压调节层状TMDs结构和性质的基本规律，进而为开发新型光电器件提供新的思路和有效的指导。 |
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