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图书信息
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可靠性物理
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| ISBN： | 9787512451001 |
定价： | ￥69.00 |
| 作者： | 张慰编著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 152页 |
中图法： | TN6 |
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更新日期
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993
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2026-10-02
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图书简介 | | 本书的核心在于深入解析各类关键失效机理的物理根源，并基于此建立面向工程实践的可靠性分析与寿命预测方法。全书以失效物理为核心脉络，首先构建可靠性物理的理论框架，系统提出三大建模视角。随后引入支撑失效分析的材料基础，详述材料特性与工艺缺陷对失效的微观影响。继而聚焦核心失效机理，分章深入解析：断裂行为、疲劳失效、腐蚀失效、摩擦磨损、高温蠕变，并拓展至电子器件扩散迁移、高分子老化、电介质击穿等前沿模式。最终结合理论与机理，介绍基于可靠性物理的寿命仿真与评价方法，为产品设计优化与延寿决策提供支撑。 |
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