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图书信息
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基于磁记忆信号特征提取的缺陷检测识别分类技术
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| ISBN： | 9787312065385 |
定价： | ￥50.00 |
| 作者： | 陈宇，涂泽华，李亮亮著 |
出版社： | 中国科学技术大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 105页 |
中图法： | TM274 |
相关供货商
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供货商名称
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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105
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库区4/库区7/样本4/样本7
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2026-09-10
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其它供货商库存合计
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272
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2026-08-28
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图书简介 | | 本书分析铁磁材料的磁特性机理以及外磁场与载荷对其弱磁信号的影响；基于力磁耦合型磁偶极子理论构建弱磁检测模型，得出弱磁信号与铁磁材料缺陷宽度、深度及检测过程中探头提离距离的变化规律；提出采用人工智能方法提取含缺陷弱磁信号的特征，改进深度学习模型并设计多种算法，实现铁磁材料缺陷的分类识别。 |
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