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图书信息
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基于磁记忆信号特征提取的缺陷检测识别分类技术
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| ISBN： | 9787312065385 |
定价： | ￥50.00 |
| 作者： | 陈宇，涂泽华，李亮亮著 |
出版社： | 中国科学技术大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年05月 |
开本： | 17cm |
| 页数： | 68页 |
中图法： | TM274 |
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483
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2026-06-02
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图书简介 | | 本书分析了铁磁材料磁特性机理以及外部磁场与载荷对铁磁材料弱磁信号的影响情况；借助力磁耦合型的磁偶极子理论建立弱磁检测模型，得出弱磁信号与铁磁材料的缺陷宽度、深度，以及弱磁检测过程中探头提离距离之间的变化规律；提出利用人工智能方法提取具有缺陷的弱磁信号特征，改进深度学习模型，提出多种算法实现对铁磁材料缺陷的分类识别。可供计算机科学与技术、电子科学与技术、信息与通信工程、航空宇航科学与技术等相关研究领域的高校教师及技术人员，高校相关研究领域的硕、博士研究生，以及机械类、自动化类、航空宇航类、电子信息类、计算机类本科生使用。 |
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