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图书信息
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电子衍射与成像中的弹性散射和非弹性散射
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| ISBN： | 9787030848963 |
定价： | ￥238.00 |
| 作者： | (美)王中林著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2026年03月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 367页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | O46 |
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更新日期
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202
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2026-04-03
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图书简介 | | 本书围绕电子衍射与成像中的弹性和非弹性散射问题，建立了系统的理论框架，并探讨了各种实验和计算方法的应用。书中首先介绍了电子波动性的基本概念，以及电子在晶体中的散射过程，涵盖了平面波、单原子散射、布拉格定律、简易空间等基础内容。随后，深入讲解了动力学弹性电子散射的几种主要理论，并探讨了其在透射电子显微成像(TEM)和扫描透射电子显微成像(STEM)中的应用。本书特别强调了非弹性散射对电子衍射和成像的影响，系统讨论了菊池图案、声子散射、价电子激发、原子内壳层激发等非弹性过程，并提出了多种处理方法。此外，还探讨了热漫散射、缺陷晶体的电子散射、热扩散散射等问题，并建立了相应的数学模型和计算方法。在应用层面，本书详细介绍了RHEED、EELS、HAADF-STEM等高分辨成像技术，并针对高分辨透射电子成像中的非弹性散射影像提供了理论分析与数值模拟。此外，还探讨了动态电子散射理论，包括格林函数、密度矩阵方法、多重非弹性散射等前沿研究。通过对不同理论方法的比较分析，本书为读者提供了一种综合的视角，使其能够在实际研究中选择最合适的理论模型和计算方法。 |
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