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图书信息
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高频噪声理论与测试技术
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| ISBN： | 9787118141290 |
定价： | ￥198.00 |
| 作者： | 郁发新[等]著 |
出版社： | 国防工业出版社 |
| 出版时间： | 2026年02月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 46,391页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TB53 |
相关供货商
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供货商名称
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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2
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泰安展厅库
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2026-10-21
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其它供货商库存合计
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507
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2026-10-21
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图书简介 | | 本书内容上既涵盖噪声参数的基本概念、核心数学理论基础，又深入剖析晶体管、放大器等不同类型高频器件的电路噪声模型构建逻辑；同时详解噪声关联矩阵的推导方法与去嵌技术的实操路径，全面阐释噪声测量仪表的硬件结构、工作原理及关键性能指标的解读与评判标准。此外，书中还对比了各类噪声测量方法的技术原理、实测结果与优缺点，开展测量不确定度的量化分析，介绍自动测试技术的前沿发展趋势，并提炼出仪器操作的实用技巧与实验注意事项，最后延伸讲解相位噪声的特性、影响及测试方案，为高频电子系统的低噪声设计、测试与优化提供理论与实践双重支撑。 |
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