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图书信息
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电子信息装备试验测试技术
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| ISBN： | 9787118141337 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 杨会民等著 |
出版社： | 国防工业出版社 |
| 出版时间： | 2026年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 489页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TJ01 |
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更新日期
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500
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2026-03-23
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图书简介 | | 本书主要对电子信息装备试验性能参数测试方法进行了介绍，具体内容包括电子信息装备试验静态技术参数及动态试验中相关的性能指标，新体制雷达的特点及参数测试方法，通信对抗装备性能参数的含义、测试原理及方法步骤，未来试验测试技术的发展趋势，重点阐述电子信息装备试验常用天线的结构及性能指标，各项性能指标的测试原理、方法步骤及测试中的注意事项，并以雷达对抗实验为案例进行性能参数分析，给出验证和评估实践案例的结果。 |
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