同类推荐
-
-
光电集成技术
-
¥199.00
-
-
芯片制造:半导体真空技术与设备
-
¥79.00
-
-
形式化验证:现代VLSI设计的必备工具包
-
¥129.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
-
-
RTL设计师面试攻略:芯片从设计到交付的全流程
-
¥68.00
-
-
RTL设计师面试攻略:芯片从设计到交付的全流程
-
¥68.00
-
-
RTL设计师面试攻略:芯片从设计到交付的全流程
-
¥68.00
-
-
工业芯片封装技术
-
¥139.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
微电子器件静电放电效应与防护
|
| ISBN: | 9787576723625 |
定价: | ¥93.00 |
| 作者: | 杨洁[等]编著 |
出版社: | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间: | 2025年07月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 218页 |
中图法: | TN4 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
24
|
库区4
|
2026-01-22
|
|
其它供货商库存合计
|
753
|
|
2026-01-19
|
图书简介 | | 本书详细地介绍了微电子器件静电放电效应规律、失效机理及防护技术,主要内容紧紧围绕微电子器件静电问题包括了静电放电敏感度评价方法、静电放电明显性失效分析、静电放电潜在性失效分析和静电防护技术等几个方面,反映了本领域的最新研究成果。 |
|