同类推荐
-
-
ESD设计与综合
-
¥109.00
-
-
ESD设计与综合
-
¥109.00
-
-
ESD设计与综合
-
¥109.00
-
-
集成电路设计技术
-
¥79.00
-
-
集成电路设计技术
-
¥79.00
-
-
集成电路设计技术
-
¥79.00
-
-
数模集成电路设计基础教程
-
¥56.00
-
-
CMOS模拟集成电路版图设计与验证:基于Cadence…
-
¥129.00
-
-
现代SoC设计:基于ARM架构
-
¥169.00
-
-
集成电路版图设计实用教程
-
¥60.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
微电子器件静电放电效应与防护
|
| ISBN： | 9787576723625 |
定价： | ￥93.00 |
| 作者： | 杨洁[等]编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2025年07月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 218页 |
中图法： | TN4 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
133
|
库区4/样本4
|
2026-04-30
|
|
其它供货商库存合计
|
539
|
|
2026-04-24
|
图书简介 | | 本书详细地介绍了微电子器件静电放电效应规律、失效机理及防护技术，主要内容紧紧围绕微电子器件静电问题包括了静电放电敏感度评价方法、静电放电明显性失效分析、静电放电潜在性失效分析和静电防护技术等几个方面，反映了本领域的最新研究成果。 |
|