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图书信息
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汽车芯片质量可靠性检测评估指引
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| ISBN： | 9787030836908 |
定价： | ￥158.00 |
| 作者： | 王勇[等]主编 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2026年01月 |
版次： | 1版 |
| 开本： | 28cm |
页数： | 158页 |
| 装祯： | 平装 |
中图法： | F426.471 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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36
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库区13/泰安展厅库/样本13
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2026-07-26
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其它供货商库存合计
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202
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2026-07-24
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图书简介 | | 本书共四章。第1章概述汽车芯片定义、分类、应用及产业链现状，分析市场需求增长和技术瓶颈。第2章详解汽车芯片标准体系，重点解读AEC-Q系列标准(包括质量可靠性管理原则、可靠性验证方案和试验执行标准)，并简述欧洲AQG标准。第3章阐述检测评估方法，介绍AEC-Q100工作思路、试验项目(如环境应力、机械试验、电性能验证)的目的、失效机理及注意事项。第4章从用户视角提供AEC-Q检测报告阅读指南，构建“定性评价+定量评分”的评价工具，帮助快速判断产品质量。 |
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