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图书信息
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环境岩土原位测试技术
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| ISBN: | 9787030793140 |
定价: | ¥179.00 |
| 作者: | 蔡国军[等]著 |
出版社: | 科学出版社 |
| 出版时间: | 2025年10月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 279页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | TU4 |
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202
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2026-01-16
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图书简介 | | 本书内容共7章,包括绪论、污染环境原位取样/调查技术、环境岩土原位测试设备、土壤污染物运移模型、环境岩土原位测试技术在重金属污染场地和有机污染场地以及特殊土场地的应用。重点论述污染土的工程特性、环境原位取样、测试技术,包括电阻率孔压静力触探测试(CPTU)技术、荧光CPTU设备技术、光纤化学CPTU设备技术、薄膜界面探头(MIP)设备技术。基于上述环境原位测试技术理论研究与设备研发成果,重点介绍作者团队参与国内土体污染工程应用案例。 |
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