同类推荐
-
-
数模集成电路设计基础教程
-
¥56.00
-
-
CMOS模拟集成电路版图设计与验证:基于Cadence…
-
¥129.00
-
-
现代SoC设计:基于ARM架构
-
¥169.00
-
-
集成电路版图设计实用教程
-
¥60.00
-
-
Altium Designer从零开始做工程之ATE载…
-
¥79.00
-
-
芯片制造:半导体离子注入技术与设备
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
EDA简史:半导体与集成电路设计技术的商业、生态与未来
-
¥89.00
-
-
集成电路硬件安全
-
¥79.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
集成电路封装与测试技术
|
| ISBN： | 9787040653670 |
定价： | ￥68.00 |
| 作者： | 刘胜主编 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2025年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 287页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN405;TN407 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
50
|
|
2026-04-03
|
图书简介 | | 本书主要内容包括集成电路封装概述、封装电路设计原理、封装可靠性设计与失效分析、封装热管理技术、单芯片与多芯片封装技术、集成电路与晶圆级封装、特殊封装技术与应用、集成电路测试技术概述、集成电路生产测试设备与方法以及测试技术的应用与挑战十个章节。 |
|