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图书信息
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公差配合与技术测量:理实一体化
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| ISBN: | 9787111789765 |
定价: | ¥55.00 |
| 作者: | 吴宏霞,舒勇主编 |
出版社: | 机械工业出版社 |
| 出版时间: | 2025年10月 |
版次: | 2版 |
| 开本: | 26cm |
页数: | 224页 |
中图法: | TG801 |
相关供货商
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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30
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库区7
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2026-02-11
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其它供货商库存合计
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500
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2026-02-11
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图书简介 | | 本书通过6个模块、35个任务,阐述了产品生产中所涉及的公差配合与技术测量的工作内容与技术要求,内容包括零件图和装配图尺寸公差的识读、零件尺寸的测量、几何公差及其检测、表面粗糙度及其测量、螺纹公差及其检测、典型零件图的技术要求与测量。 |
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