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¥55.00
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图书信息
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公差配合与技术测量:理实一体化
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| ISBN： | 9787111789765 |
定价： | ￥55.00 |
| 作者： | 吴宏霞, 舒勇, 主编 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2025年10月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26 |
页数： | 346 |
| 装祯： | 平装 |
中图法： | TG801 |
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更新日期
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500
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2025-12-16
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图书简介 | | 本书通过6个模块，35个任务，较全面地阐述了产品生产中所涉及的公差配合与技术测量的工作内容与技术要求，内容包括零件图和装配图尺寸公差的识读、零件尺寸的测量、几何公差及其检测、表面粗糙度及其测量、螺纹公差及其检测、典型零件图的技术要求与测量。书中引用大量的实例，紧密结合生产实际，将精密测量技术与大国工匠精神深度融合，弘扬工匠精神，并结合生产实际需求，增加综合训练等内容，丰富课后练习，以帮助学生巩固知识。 |
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